四探針測試儀是一種運用四探針測量原理的多用途綜合測量裝置，其測試探頭上有用到鎢針。這種鎢針主要採用的是高耐磨碳化鎢針，具有使用壽命長、定位準確、遊移率小等特性。
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四探針測試儀的測試探頭上的鎢針：根據儀器名就可以知道，該測試儀上有四根探測鎢針；探針間距為1mm；探針主要成分為碳化鎢，直徑為0.5mm。
這種測試儀主要用於測量片狀、塊狀半導體材料的徑向和軸向電阻率，測量擴散層的薄層電阻（方塊電阻）。也就是說，鎢針適用於半導體材料廠、半導體器件廠、科研單位、高等院校等對半導體材料的電阻性能的測試。
